航空插頭絕緣失效的原因

對航空插頭失效品和正常品進行高溫試驗,高溫冷卻后的樣品測試絕緣,分別和結(jié)果表明,故障產(chǎn)品含有一定量的水分在航空插頭,與此同時,水的存在和高溫會降低航空插頭的絕緣電阻。

然后對航空插頭故障產(chǎn)品拆卸實驗,發(fā)現(xiàn)航空插頭剩余內(nèi)部絕緣組件有淺藍(lán)色的腐蝕,光一層金屬薄膜,失敗航空插頭之前和之后的拆遷封裝膠絕緣電阻測試,結(jié)果表明,失敗后拆卸航空插頭的絕緣合格,并封裝膠測試其絕緣電阻是正常的。

所有金屬部件的航空插頭EDS測試,結(jié)果表明,金屬條的金屬部件的表面鍍銀的銅鋅合金,和其他金屬部件沒有銅鋅銀原料,淺藍(lán)色的腐蝕,和遷移的銀膜是金屬與金屬接觸一條組件,所有組件的絕緣,紅外分析結(jié)果表明,該絕緣組件分別有聚酯,硅膠,PVC(封裝膠),分別對封裝膠和正常封裝脫膠商品用于離子色譜分析,結(jié)果表明,氯離子含量的失敗產(chǎn)品包裝膠是正常產(chǎn)品的1.8倍,潮濕環(huán)境中氯離子的存在會大大促進金屬部件的腐蝕和離子導(dǎo)電路徑的形成。